Recuperación de la degradación LID de módulos instalados en
El presente documento hace una recopilación de los métodos de pasivación para la mitigación de la degradación LID producida por defectos B-O presentes en el silicio cristalino.

Como resultado, la degradación media anual de la potencia pico de los módulos ha sido del 1,4%/año, mientras que la degradación media anual de los campos fotovoltaicos ha sido del 1,78%/año para el
Se realiza la comparación de los principales parámetros eléctricos y de las resistencias serie y paralelo medidas entre 1996 y 2017, y se evalúa la tasa de
Este trabajo presenta los resultados de las investigaciones llevadas a cabo sobre los mecanismos de degradación de una instalación FV de silicio cristalino de 2 kWp después de 12 años de exposición
La versión PDF incluye el artículo completo con referencias. Adecuado para impresión y lectura sin conexión.